MONITORAGGIO IN SITU DEL PROCESSO MEX-AM PER LA RILEVAZIONE DEI DIFETTI SUPERFICIALI TRAMITE PROFILOMETRO A LUCE BLU

L'uso delle tecnologie di produzione additiva, in particolare la Material Extrusion (MEX), ha conosciuto una rapida crescita nel campo della produzione di parti funzionali, aventi come richiesta geometrie rigorose e specifiche funzionali. Tali richieste implicano la necessità di utilizzare sistemi di monitoraggio in tempo reale e sempre più efficienti, affinché si possa individuare la nascita dei difetti durante il processo stesso, in modo da garantire di poter modificare i parametri di stampa e ottimizzare la qualità del prodotto finale (nel caso fosse possibile) o di interrompere la stampa stessa. Questo lavoro di tesi si concentra sulla calibrazione di una stampante 3D e del monitoraggio in tempo reale del processo MEX al fine di identificare la capacità del sistema di monitoraggio di individuare i difetti introdotti nel momento in cui vengono variati i parametri di stampa ottimali ottenuti con la calibrazione della stampante. La stampante presa in considerazione è una Geeetech A10, mentre per il monitoraggio del processo è preso in considerazione un profilometro a luce blu.