ANALISI E TEST DI UN CIRCUITO DI GENERAZIONE DEL DEAD-TIME

SIMONI, LUCIANO
2021/2022

2021
ANALYSIS AND TEST OF A DEAD-TIME GENERATION CIRCUIT
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Descrizione: Modellazione in Multisim di un circuito di “negazione” dei segnali di pilotaggio dei transistor, con l’introduzione del dead-time; approvvigionamento dei componenti hardware; realizzazione del circuito progettato via software su di una breadboard.
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14253/66062